静电力显微镜与磁力显微镜（MFM）相似却又不同的是，静电力显微镜主要是可以检测出样品的表面电势、电场分布、薄膜的介电常数和沉积电荷等相关信息。具体使用原理是什么呢？本原的小编和大家分享一下吧~具体内容如下：
　　静电力显微镜主要是利用测量探针与样品的静电之间相互作用，来表征样品表面静电势能，电荷分布以及电荷输运的扫描探针显微镜。扫描式电场力显微镜利用提升操作功能，由于静电作用属于长程作用力,因此利用静电力显微镜研究样品电特性采用Liftmode模式测量,以减小表面形貌的影响。每条扫描线都进行两次扫描:首先，形貌测量是采用轻敲模式获得;然后针尖提起一定高度第二次扫描，扫描过程中保持针尖与样品间距恒定来获得电性质。这种测量方式虽然将样品形貌特征与电场梯度分离开来，但在纳米级测量中，由于二次定位产生的误差(非线性误差)会严重影响测量结果,从而很难获得真实的图像信息。因此，利用静电力显微镜一次扫描同时测量样品表面形貌和样品表面电性质的技术受到了广泛的重视。1990年,BDTeris等人利用EFM测量了绝缘体表面的局部电荷,并有效的降低了表面形貌对测量结果的影响。
　　静电力显微镜主要采用的是导电探针以抬起模式进行扫描。
　　综上所述就是广州本原纳米仪器有限公司的小编和大家分享的关于静电力显微镜的使用原理，希望对大家有用。